美国Sinton 少子寿命测量仪
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.
是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子大家好，下面由华联欧官网小编分享给大家《美国Sinton 少子寿命测量仪产品优质供应商》。下面详细解释一下。现在让我们来看看!道虽迩，不行不至;事虽小，不为不成;华联欧将从每个细节做起，用心为客户提供：专业的服务、优良的产品，具有竟争力的价格和货期;我们时刻准备着为您提供专业、优质、高效的服务，直到您满意为止。实时为客户提供工业自动化控制技术解决方案及售后支持服务。美国Sinton 少子寿命测量仪全系列产品型号齐全，质量保证，售后完善，欢迎在线咨询:诚信并重视每一位客户，提供一对一专业服务~
美国Sinton 少子寿命测量仪
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.
是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。
Sinton BLS-I少子寿命测量仪
BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。
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