microworksX射线干涉仪Talint EDU
浏览次数：357 发布于：2023-04-16
Talint EDU是X射线Talbot Lau干涉仪的一种巧妙简化形式，包括所有必要的硬件，以正确设置和微调干涉仪，并应用相位步进程序，以获得三种成像模式：吸收、相位对比度和暗场对比度。
硬件的设计使得，在按照我们的说明组装（预装）套件后，莫尔条纹将很容易在您的探测器上看到。莫尔条纹图案的进一步微深圳市华联欧国际贸易有限公司工业自动化品牌产品种类众多，我们可提供从独立元件到全面集成的定制系统解决方案及工业备品备件选型服务，每种解决方案都可以为客户带来高效的灵活性和附加值。我们是工业自动化的全球合作伙伴;我们的目标是可持续发展。我们的专业是自动化;我们的使命是创新。我们的激情来自合作伙伴关系!诚信为首、正品采购、价格优惠、品质保障、体贴的服务为您提供安全、可靠、完善的售前、售后服务，不断追求更加卓越的企业品质，向专业多元化的产品模式稳步前进。下文华联欧小编将为您详细讲解有关《优势供应microworksX射线干涉仪Talint EDU》等内容，欢迎您继续阅读，祝您生活愉快，谢谢~
Talint EDU是X射线Talbot Lau干涉仪的一种巧妙简化形式，包括所有必要的硬件，以正确设置和微调干涉仪，并应用相位步进程序，以获得三种成像模式：吸收、相位对比度和暗场对比度。
硬件的设计使得，在按照我们的说明组装（预装）套件后，莫尔条纹将很容易在您的探测器上看到。莫尔条纹图案的进一步微调可以通过使用G1和G2支架中的微米螺钉使光栅绕光轴进行角旋转，以直接的方式进行。
性能特点
- 由基板定义，基板是M6的试验板，间距为25mm
- 光栅是使用X射线LIGA技术制造的，该技术确保了高精度和高的高宽比（纵横比）
- 通过定位销固定；对称设置
- 两个光栅都可以通过调节测微螺钉绕光轴旋转
- 包含控制器
技术参数
产地：德国
长度：60厘米
宽度：15厘米
高度：20厘米
光栅开放区域
G0：15毫米
G1：70毫米
G2：70毫米
干涉仪的微调：仅调整G1和G2绕光轴的旋转角度
样品放置：简单的旋转台，可在光轴内外摆动样品
相位步进：闭环压电级。30nm分辨率
边缘能见度：通常>15%
G0和G2的占空比：0.55
G0和G2的基板：400µm石墨
G1占空比：0.5
G1基板：200µm硅
详细参数
产品应用
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