Thorlabs的双扫描狭缝式光束质量分析仪非常适合分析近似高斯光束的截面轮廓。可以在2 Hz到20 Hz之间的扫描速率(可以使用软件设定)下，测量光束截面中用户指定的X轴和Y轴的强度轮廓。20 Hz的高扫描速率能够实时对准光学系统。这些光束质量分析仪主要用于连续激光束，也可以采用平均法测量大于10 Hz的脉冲光束。测量结果可用于评估光束质量、检查重建的光束轮廓以及监测长期稳定性。
这些扫描狭缝式光束质量分析仪配有低噪声电子元件，动态范围高达78 dB，能够测量直径在2.5 µm和9 mm之间的光束。光束直径参考ISO 11146标准测量，可按照多种行业标准的限幅水平显示，比如1/e2(13.5%)、50%或用户设定的任意限幅水平值。
我们提供三种型号的双扫描狭缝式光束质量分析仪。BP209-VIS(/M)用于200 nm - 1100 nm，BP209-IR(/M)用于900 nm - 1700 nm，而BP209-IR2(/M)的使用波长范围是扩展的近红外波段，即900 nm - 2700 nm。所有型号都有一个Ø9 mm的入射孔径，通过连续扫描两个宽度相同且互相垂直的狭缝进行测量。使用软件切换5 µm或25 µm宽的狭缝对、选择扫描狭缝或刀口工作模式、设置其它扫描选项等。有关不同狭缝宽度和工作模式的功能和用法信息，请看工作标签。
Thorlabs的Beam软件可以完全控制这些光束质量分析仪的工作，且提供了多种用户可调节的设置以及显示与数据记录选项。软件可以在软件标签下载，然后安装到用户的PC。光束质量分析仪连接到装有Beam软件的PC时，不需要其他的硬件和电源。Thorlabs采用USB 2.0高速接口将测量头连接到PC，所需的USB电线随货附带。这些光束质量分析仪具有灵活的数据输出选项，以及用于美国仪器(National Instruments)软件的数据接口，便于将其集成到自定义数据处理环境。更多有关软件功能的信息，请看上面的用户界面标签。
M2测量系统
基于BP209光束质量分析仪的完整M2测量系统通过将下面出售的光束质量分析仪与波长兼容的扩展装置集成就可以搭建。基于BP209系列测量头的完整M2测量系统的组件可以在提供的产品中购买，而有关Thorlabs M2测量系统，以及配置和购买基于BP209或BC106光束质量分析仪系统的所有信息，请看M²测量系统页面。
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